61. ISTFA 2000 :
المؤلف:
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Electronic apparatus and appliances-- Testing, Congresses,Electronics-- Materials-- Testing, Congresses
62. ISTFA 2011
المؤلف: sponsored by EDFAS--Electronic Device Failure Analysis Society, ISTFA/2009, ASM International.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Electronic apparatus and appliances-- Testing, Congresses.,Electronics-- Materials-- Testing, Congresses.
رده :
TK7871
.
I58
2011eb
63. ISTFA 2012
المؤلف:
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Electronic apparatus and appliances-- Testing, Congresses.,Electronics-- Materials-- Testing, Congresses.
رده :
TK7801
.
I58
2012eb
64. ISTFA '96
المؤلف:
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Electronic apparatus and appliances-- Testing, Congresses.,Electronics-- Materials-- Testing, Congresses.
65. ISTFA '97
المؤلف: sponsored by ASM International.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Electronic apparatus and appliances-- Testing, Congresses.,Electronics-- Materials-- Testing, Congresses.
66. ISTFA 2001 :
المؤلف:
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Electronic apparatus and appliances-- Testing, Congresses,Electronics-- Materials-- Testing, Congresses
67. ISTFA 2002 :
المؤلف:
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Electronic apparatus and appliances-- Testing, Congresses,Electronics-- Materials-- Testing, Congresses
68. ISTFA 2004
المؤلف:
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Electronic apparatus and appliances-- Testing, Congresses,Electronics-- Materials-- Testing, Congresses
رده :
TK7871
.
I48
2004
69. ISTFA 2009 :
المؤلف: sponsored by EDFAS--Electronic Device Failure Analysis Society, ISTFA/2009, ASM International
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Electronic apparatus and appliances-- Testing, Congresses,Electronics-- Materials-- Testing, Congresses
70. ISTFA 2010
المؤلف: sponsored by EDFAS--Electronic Device Failure Analysis Society, ISTFA/2010, ASM International.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Electronic apparatus and appliances-- Testing, Congresses.,Electronics-- Materials-- Testing, Congresses.
رده :
TK7871
.
I87
2010eb
71. ISTFA 2008 :
المؤلف: sponsored by EDFAS--Electronic Device Failure Analysis Society, ISTFA/2008, ASM International
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Electronic apparatus and appliances-- Testing, Congresses,Electronics-- Materials-- Testing, Congresses
72. Introduction to component testing :application electronics
المؤلف: Stevens, Anthony K.
المکتبة: (خراسان الجنوبیة)
موضوع: Testing ، Electronic apparatus and appliances
رده :
TK
7870
.
S85
1986
73. Know your signal generators
المؤلف: Middleton, Robert Gordon
المکتبة: المکتبه المرکزيه ومرکز التوثیق بجامعة الشهید باهنر فی کرمان (کرمان)
موضوع: Testing ، Electronic apparatus and appliances,، Electronic measurements
رده :
TK
7870
.
M459
1965
74. Lock-in thermograph
المؤلف: / O. Breitenstein, W. Warta, M. Langenkamp
المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Electronic apparatus and appliances, Thermal properties,Electronic apparatus and appliances, Testing,Semiconductors, Thermal properties,Thermography,Electronic books
رده :
TK7870
.
25
.
B74
2010
75. Lock-in thermography
المؤلف: O. Breitenstein, W. Warta, M. Langenkamp
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اطلاع رساني دانشگاه شاهد (طهران)
موضوع: Electronic apparatus and appliances, Thermal properties,Electronic apparatus and appliances, Testing,Semiconductors, Thermal properties,Thermography
رده :
TK
،
7870
.
25
،.
B74
،
2010
76. Lock-in thermography
المؤلف: O. Breitenstein, W. Warta, M. Langenkamp.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Electronic apparatus and appliances-- Testing.,Electronic apparatus and appliances-- Thermal properties.,Semiconductors-- Thermal properties.,Thermography.
رده :
TK7870
.
25
.
B74
2010eb
77. Lock-in thermography
المؤلف: O. Breitenstein, W. Warta, M. Langenkamp.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Electronic apparatus and appliances-- Testing.,Electronic apparatus and appliances-- Thermal properties.,Semiconductors-- Thermal properties.,Thermography.
رده :
TK7870
.
25
.
B74
2010eb
78. Lock-in thermography
المؤلف: / O. Breitenstein, W. Warta, M. Langenkamp
المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Electronic apparatus and appliances, Thermal properties,Electronic apparatus and appliances, Testing,Semiconductors, Thermal properties,Thermography
رده :
E-BOOK
79. Manual of electronic servicing tests and measurements
پدیدآورنده : Robert C. Genn, Jr
موضوع : Electronic apparatus and appliances--Testing,Electronic apparatus and appliances--Maintenance and repair,Electronic measurements
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
80. Manual of electronic servicing tests and measurements
المؤلف: Genn, Robert C.
المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Testing ، Electronic apparatus and appliances,Maintenance and repair ، Electronic apparatus and appliances,، Electronic measurements
رده :
TK
7870
.
G4218
1990
